
Paveikslas 1. Osiloskopo pagrindu esantis induktyvumo matavimas
osiloskopaspaprastai nematuoja induktyvumo tiesiogiai. Vietoj to, jis matuoja elektrinius dydžius, tokius kaip įtampa ir laikas, kurie gali būti naudojami nustatyti, kaip induktorius reaguoja į AC signalą. Kadangi induktorius priešinasi srovės pokyčiams, jo elektrinis elgesys priklauso tiek nuo jo induktyvumo, tiek nuo taikomo signalo dažnio. Stebint įtampą, su srove susijusius signalus, fazių skirtumą ar rezonansą, induktyvumas gali būti apskaičiuotas netiesiogiai. [1,3]
Vienas paprastas metodas yra žinomo rezistoriaus metodas. Rezistorius su žinoma verte yra prijungtas prie bandymo grandinės taip, kad įtampa, esanti per jį, atspindėtų srovę, tekančią per induktorių. Osiloskopas palygina šią su srove susijusią bangos formą su įtampa, susijusia su induktoriumi ar taikomu signalu. Jų amplitudė ir fazių santykis gali būti naudojami nustatyti induktoriaus induktyvų elgesį ir apskaičiuoti jo induktyvumą. [1]
Kitas metodas yra rezonansinis metodas. Šiuo metodu induktorius sujungiamas su žinomą talpą turinčiu kondensatoriumi, kad sudarytų rezonansinę grandinę. Osiloskopas naudojamas nustatyti dažnį, kuriuo grandinė pasiekia rezonansą. Kadangi rezonanso dažnis priklauso tiek nuo induktyvumo, tiek nuo talpos, nežinomas induktyvumas gali būti nustatomas pagal išmatuotą rezonanso dažnį ir žinomos talpos vertę. [3,5]
Abu metodai, todėl, naudoja oscilloskopą kaip bangos formos matavimo prietaisą, o ne kaip tiesioginį induktyvumo matuoklį. Šiuose skyriuose paaiškinama grandinės nustatymas ir matavimo procedūros kiekvienam metodui.
Norint matuoti induktyvumą su oscilloskopu naudojant žinomą rezistoriaus metodą, prijunkite induktorių serijiniu režimu su referenciniu rezistoriumi ir variklis grandinę signaliniais generatoriais. Oscilloskopas stebi įtampas pasirinktuose grandinės taškuose, todėl induktoriaus elgesys gali būti nustatytas kitame matavimo etape.[1]
Reikalinga įranga
• Oscilloskopas – Rodo įtampų bangos formas bandymo grandinėje.
• Signalinis generatorius – Tiekia AC bandymo signalą.
• Referencinis rezistorius – Teikia žinomą varžą, naudojamą grandinės srovei nustatyti iš matuojamos įtampos.
• Matuojamas induktorius – Komponentas, kurio induktyvumas bus matuojamas.
• Oscilloskopo prožektoriai – Prijungia oscilloskopo kanalus prie reikalingų matavimo taškų.
• Prijungimo laidai arba bandymų plokštė – Teikia fizinę grandinės jungtį.
Referencinis rezistorius turėtų turėti žinomą arba išmatuotą varžos vertę. Jo varža taip pat turėtų būti parinkta taip, kad įtampa per rezistorių ir įtampa, susijusi su induktoriumi, liktų pakankamai didelės patikimam oscilloskopo matavimui. Jei viena įtampa labai maža lyginant su kita, matavimo klaidos gali padidėti.
Pagrindinė testavimo grandinė
Tipinė jungtis yra:
Funkcijos generatoriaus išėjimas → Referencinis rezistorius Rref → Induktorius Lx → Bendra circuit referencija
Rezistorius ir induktorius yra prijungti serijiniu režimu, todėl ta pati srovė teka per abu komponentus.[1]
Dviejų kanalų oscilloskopui CH1 gali matuoti funkcinio generatoriaus išėjimą referencinio rezistoriaus įėjimo pusėje, o CH2 matuoja mazgą tarp Rref ir Lx. Abu prožektorių referenciniai laidai turėtų būti prijungti prie to paties bendro grandinės referencijos, jeigu oscilloskopo ir signalo generatoriaus grounding arrangement leidžia tai saugiai.

2 pav. Testavimo grandinės nustatymas oscilloskopu pagrįstam induktyvumo matavimui naudojant žinomą rezistorių
Prieš atliekant matavimus, nustatykite abu oscilloskopo kanalus į tinkamas įtampos ribas, kad bangos formos būtų aiškiai matomos. Nustatykite signalų generatorių į stabilų periodinį bangos formą, paprastai sinusinę bangą, ir pradėkite su vidutiniu išėjimo lygiu, kuris nesukelia induktoriaus, rezistoriaus, signalų generatoriaus ar oscilloskopo įėjimų perkrovos.
Šiuo etapu tikslas yra tik nustatyti stabilios testavimo grandinės ir gauti aiškias bangos formas. Kitas skyrius paaiškina, kaip matuojamos įtampos naudojamos induktyvumui apskaičiuoti.
Su grandine prijungta kaip parodyta 2 pav., oscilloskopo matavimai gali būti naudojami induktoriaus impedancijai nustatyti. Realus induktorius turi tiek serijinę varžą, tiek induktyvią reaktyvumą, todėl fazės informacija reikalinga, kai šie komponentai turi būti tiksliai atskirti. [1,3]
Matavimo procedūra
1. Nustatykite
signalų generatorių
į stabilų sinusinės bangos dažnį ir užrašykite bandymo dažnį f.
2. Išmatuokite įėjimo įtampą su CH1 ir induktoriaus įtampą
su CH2.
3. Gaukite įtampą per referencinį rezistorių naudodami oscilloskopo
matematikos funkciją:
VR = VCH1 − VCH2
4. Apskaičiuokite srovę per seriją grandinę:
I = VR Rref
5. Apskaičiuokite induktoriaus
impedanso dydį:
ZL = VL I
Naudokite tą pačią įtampos matavimo tipą VL ir VR, pavyzdžiui, RMS vertes abiem.
Atskirti varžą ir reaktansą
Jei oscilloskopas gali matuoti fazės kampą qL tarp induktoriaus įtampos ir grandinės srovės, resistyviniai ir reaktiniai komponentai induktoriaus impedanse gali būti atskirti.
Lygiavertė serijos varža yra:
Rs = |ZL| cos(θL)
Induktyvinė reaktyva yra:
XL = |ZL| sin(θL)
Induktivumas tada yra:
L = XL 2πf
Ši metodas atsižvelgia į tai, kad praktiškas induktorius turi apvijų varžą ir kitas nuostolius, o ne elgiasi kaip grynai induktyvus komponentas.
Ideali induktoriaus aproksimacija
Jei induktoriaus rezistinis komponentas yra mažas, palyginti su jo induktyviuoju reaktansu, impedancija gali būti prilyginta grynai induktyviai. Tokiu atveju:
XL ≈ VL I
ir:
L ≈ VLRref 2πfVR
Šios lygties yra idealios induktoriaus prilyginimo. Jos prielaida, kad induktoriaus impedanso rezistinė dalis yra nereikšminga. Jos gali sukelti reikšmingą klaidą, kai vinčių rezistencija ar kitos nuostoliai nėra maži.
Pavyzdys
Tarkime:
• Rref = 100Ω
• f = 1.00 kHz
• VR = 0.707 VRMS
• VL = 0.707 VRMS
• θL = 80°
Grandinės srovė yra:
I = 0.707 100 = 7.07 mA
Induktoriaus impedanso dydis yra:
|ZL| = 0.707 0.00707 = 100 Ω
Lygiavertė serijinė rezistencija yra:
Rs = 100 cos(80°) ≈ 17.4 Ω
Induktyvioji reaktacija yra:
XL = 100 sin(80°) ≈ 98.5 Ω
Taigi:
L = 98.5 2π(1000) ≈ 0.0157 H
L≈15.7 mH
Įprasti stalo osciloskopai dažniausiai sujungia zondų žemės spaustukus su apsauginė žeme per įrenginio korpusą. Dėl šios priežasties, prisijungus zondo žemės spaustuką prie grandinės taško, kuris nėra skirtas būti žemės potenciale, galima sukurti netikėtą trumpo jungimo arba sukelti per didelę srovę, tekančią per zondo žemės sujungimą. Naudokite osciloskopą tik su aiškiai identifikuotu ir saugiu grandinės reference. [2,7,8]
Matavimo įranga, turinti testavimo arba matavimo grandines, yra padengta saugos reikalavimais, tokiais kaip IEC 61010-2-030, kurie nagrinėja pavojus, susijusius su matavimo grandinėmis ir jų prijungimu prie išorinių grandinių. [9]
| Saugos Praktika |
Ką Daryti |
| Naudokite vieną bendrą žemės referencą |
Prijunkite osciloskopo ir signalų generatoriaus žemės jungtis tik prie numatytos bendros grandinės referencijos taško. [2] |
| Venkite žemės trumpo jungimo |
Nepasijunkite standartinio žemės referencinio zondo žemės spaustuko prie grandinės taško, kuris yra skirtingame potenciale nuo apsauginės žemės. [2,8] |
| Išjungti prieš keičiant laidus |
Išjunkite signalų šaltinį prieš judindami zondus ar keisdami rezistorių, induktorių ar laidus. [2,9] |
| Laikykite matavimus mažame įtampoje |
Naudokite mažos įtampos, izoliuotus stalo signalus, kiekvieną kartą, kai tai praktiškai įmanoma induktyvumo matavimams. |
| Neplaukite osciloskopo |
Neišjunkite arba neatsijunkite osciloskopo apsauginės žemės jungties, kad gautumėte plūstantį matavimą. [2,8] |
| Naudokite diferencialinį matavimą, kai tai būtina |
Jei nė vieno matavimo taško negalima saugiai prijungti prie žemės, naudokite diferencialinį zondą arba tinkamą izoliuotą matavimo sistemą. |
| Patikrinkite diferencialinio zondo ribas |
Pasirinkite diferencialinį zondą su tinkamu diferencialinio įtampos reitingu, bendrosios režimo įtampos reitingu, juostos pločiu, darbo įtampa ir matavimo kategorija, skirtas testuojamai grandinei. |
| Patikrinkite visus prietaiso reitingus |
Įsitikinkite, kad osciloskopas, zondai, priedai ir testavimo laidai yra tinkami pagal įtampą, dažnį, pereinamąją aplinką ir su matavimo kategorija susijusius reikalavimus. [2,8,9] |
Svarbi Žemės Jungimo Taisyklė
Įprastame žemės referenciniame osciloskope, kelių zondų žemės spaustukai paprastai yra sujungti kartu viduje per įrenginio žemės ir apsauginės žemės sistemą. Susijungimas su skirtingais grandinės potencialais gali sukelti netikėtą trumpo jungimo. [2]
Dėl mažos įtampos rezistoriaus–induktoriaus matavimo, aprašyto šiame straipsnyje, laikykite visas įrenginio žemes prijungtas prie to paties bendro grandinės referencijos taško ir atlikite laidų pakeitimus tik tada, kai signalų šaltinis yra išjungtas.
Šis pataisymas yra geresnis, nes jis pakeičia neaiškią frazę “tinkamai įvertintas diferencialinis zondas” faktiniais parametrais, kuriuos reikia patikrinti: diferencialinė įtampa, bendra režimo įtampa, juostos plotis, darbo įtampa ir matavimo kategorija. Taip pat įvedama IEC 61010-2-030 nepaversdama skyriaus ilga standartų diskusija.
Rezono metodas naudoja induktorių nežinoma verte ir kondensatorių su žinoma verte. Signalo dažnis keičiamas, kol grandinė pasiekia rezonansą. Tada rezonansinis dažnis naudojamas induktyvumui apskaičiuoti. [3,5]
Pagrindinė Grandinė

3 pav. LC Rezonansinė Testo Grandinė Induktyvumui Matuoti su Osloskopu
Procedūra
• Prijunkite nežinomą induktorių ir žinomą kondensatorių LC grandinėje.
• Taikykite sinusoidinį signalą.
• Lėtai keiskite signalo dažnį.
• Stebėkite osciloskopą ir raskite dažnį, kuriame grandinė rodo stipriausią rezonansinį atsaką.
• Užrašykite šį dažnį kaip fr.
• Apskaičiuokite induktyvumą naudodami:
kur:
L = induktyvumas henriais
fr = rezonansinis dažnis hercais
C= žinomas kapacitetas faraduose
Pavyzdys
Tarkime:
C = 100 nF
ir:
fr = 5.00 kHz
Paversti vertes:
C = 100 x 10-9F
fr = 5000 Hz
Tada:
L = 1 4π2(5000)2(100 × 10−9)
L ≈ 0.0101 H
Taigi, išmatuota induktyvumas yra maždaug 10.1 mH.
Abi metodai nustato induktyvumą netiesiogiai, tačiau jie naudoja skirtingas matuojamas kiekvieno ir todėl turi skirtingus klaidų šaltinius.
| Palyginimas |
Žinomas-rezistorius Metodas |
Rezonanso Metodas |
| Išmatuota kiekis |
Įtampa per referencinį rezistorių ir induktorių; fazė taip pat gali būti matuojama |
Rezonavimo dažnis nustatytas iš didžiausios serijinės srovės arba didžiausios srovės-jutimo rezistoriaus įtampos |
| Papildomas komponentas |
Žinomas referencinis rezistorius |
Žinomas kondensatorius; taip pat gali būti naudojamas srovės-jutimo rezistorius |
| Reikalingi skaičiavimai |
Apskaičiuokite srovę, induktoriaus impedansą, reaktyvumą ir induktyvumą |
Apskaičiuokite induktyvumą iš rezonansinės dažnio ir žinomos talpos |
| Fazės matavimas |
Reikalingas, kai tiksliai atskiriama serijinė varža nuo induktyvaus reaktyvumo |
Nereikalingas idealiam rezonanso skaičiavimui |
| Dominuojančios klaidų šaltiniai |
Referencinės rezistoriaus tolerancija, įtampos matavimo klaida, fazės klaida, induktoriaus serijinė varža, zondų apkrova ir bangų deformacija |
Talpyklos tolerancija, rezonansinio dažnio matavimo klaida, ritės varža, talpyklos ESR, parazitinė talpa ir plati rezonancija |
| Dažnio apribojimai |
Testavimo dažnis turi sukelti matomą reaktyvumą, tačiau turi likti žemiau regiono, kur parazitiniai efektai dominuoja |
Rezonansas turi vykti naudotiname induktoriaus, talpyklos, signalų generatoriaus ir osciloskopo dažnių diapazone |
| Nuostolių poveikis |
Nuostoliai veikia matuojamą impedansą ir turi būti atskirti nuo reaktyvumo, kai reikalingas tikslumas |
Nuostoliai mažina Q ir platina rezonanso piką, todėl rezonansinio dažnio tikslesnis nustatymas tampa sudėtingesnis |
| Pagrindas skaičiavimams |
ZL = VL/I, tada atskirti RS ir XL, kai fazė yra žinoma |
L = 1/(4p2fr2C) idealiai LC santykiui |
Žinomam rezistoriaus metodui pasirinkite testavimo dažnį, kuris generuoja pakankamai induktyvaus reaktyvumo, kad rezistoriaus ir induktoriaus įtampos būtų aiškiai matuojamos. Jei dažnis per žemas, XL =2pfL gali būti mažas, palyginus su induktoriaus vijų varža, kas padidina matavimo neapibrėžtumą. [3]
Testavimo dažnis taip pat turėtų likti pakankamai žemiau induktoriaus savitikslio rezonanso dažnio, nes parazitinė talpa tampa vis svarbesnė priartėjus prie savitikslo rezonanso. Virš savitikslo rezonanso komponentas gali nebeužimti dominuojančio induktoriaus elgesio. [3,5]
Kai gamintojo duomenys nurodo induktyvumo testavimo dažnį, naudokite tą dažnį, kai tai praktiška, kad osciloskopu atlikti matavimai galėtų būti palyginami prasmingai su duomenų lapo verte. Taikomosios testavimo vietos atveju dažnis, esantis numatytoje veikimo zonoje, gali būti svarbesnis, jei jis lieka induktoriaus induktyvumo zonoje. [3]
Tikras induktorius nesielgia kaip idealus induktyvumas. Jo apvija, branduolio medžiaga, geometrija ir konstrukcija įveda atsparumą, talpą ir dažnio priklausomus nuostolius, kurie veikia matuojamą impedansą ir induktyvumą.
Supaprastintas ekvivalentinis modelis apima numatytą induktyvumą L, efektyvų serijinius atsparumus RS ir parazitinę talpą Cp. [3]

4 paveikslas. Tikro Induktoriaus Ekvivalentinis Pajungimas
DC Atsparumas
Apvijos laidas turi baigtinį tiesioginį atsparumą (DCR). Šis atsparumas sukelia įtampų kritimą ir energijos praradimą, kai srovė eina per induktorių. [4,7] Tačiau DCR pats savaime neatspindi visų nuostolių AC veikimo metu, nes apvijos odos efektas, artumo efektas, branduolio nuostoliai ir kiti dažnio priklausomi mechanizmai gali padidinti efektyvų serijinį atsparumą. [3,6]
Parazitinė Talpa
Gretimų apvijų sukimai ir laidūs struktūros sukuria mažas nenorimas talpas. Šios talpos vaizduojamos kaip parazitinė talpa ir vis labiau svarbios kylant dažniui.
Nuostoliai ir Q Faktorius
Tikro induktoriaus nuostoliai paprastai apibūdinami naudojant kokybės faktorių Q. Pagal serijinį ekvivalentinį modelį nurodytu matavimo dažniu:
Q = XL Rs
Kadangi:
XL = 2πfL
ryšys taip pat gali būti užrašytas taip:
Q = 2πfL Rs
Čia, RS yra efektyvus serijinis atsparumas nurodytu matavimo dažniu, o ne tik tiesioginis apvijos atsparumas. Tai atspindi atsparumo nuostolį, susijusį su induktoriumi nurodytomis AC testavimo sąlygomis.
Didesnis Q reiškia, kad reaktyvioji impedansas yra didelis palyginti su efektyviais atsparumo nuostoliais tuo dažniu. [4]
Savirezonansinis Dažnis
Induktoriaus numatytas induktyvumas ir parazitinė talpa gali resonate tarpusavyje. Dažnis, kuriuo tai vyksta, vadinamas savirezonansiniu dažniu (SRF).
Žemiau SRF, komponentas paprastai elgiasi daugiausia kaip induktorius. Artėjant SRF, parazitinė talpa stipriai veikia impedansą. Virš SRF, talpinis elgesys gali dominuoti, todėl komponentas gali nebekabėti pirmiausia kaip induktorius. [3,5]
DC Biudžetas, Testo Signalo Lygis ir Branduolio Nelineariškumas
Induktivumas taip pat gali priklausyti nuo DC biudžeto srovės ir AC testinio signalo amplitudės, ypač tiems induktoriams, kurie naudoja magnetinius branduolius.
Augant DC srovei, branduolio veikimo taškas keičiasi. Kai kuriuose induktoriuose tai sukelia efektyvaus arba incremental induktyvumo sumažėjimą, kai branduolys artėja prie prisotinimo. Todėl gamintojai gali pateikti induktivumo priklausomybę nuo DC srovės kreives vietoj to, kad laikytų induktyvumą nuolatine verte.
AC testinio signalo lygis taip pat yra svarbus. Mažo signalo matavimas nustato induktyvumą aplink esamą magnetinį veikimo tašką, tuo tarpu didesnis išsiskyrimas gali perkelti branduolį per platesnę nenelinearinės magnetizacijos kreivės dalį. Todėl matuojamas induktyvumas gali skirtis, kai keičiasi testinė amplitudė.
Norėdami gauti prasmingus osciloskopo matavimus, naudokite testinę amplitudę, kuri nesukelia induktoriaus reikšmingo nelinearinio veikimo, nebent tas elgesys yra specialiai tiriamas. Jei gamintojas nurodo induktyvumo testinio lygio, testinio dažnio ar DC biudžeto sąlygas, naudokite šias sąlygas, kai lyginate matavimą su duomenų lapo verte.
Tai ypač svarbu ferrišinių, miltelių geležies ir energijos induktoriams, kur induktyvumas gali kisti priklausomai nuo srovės ir išsiskyrimo lygio.
Dažnio Priklausomas Elgesys
Kadangi efektyvus atsparumas, parazitinė talpa, magnetiniai nuostoliai ir induktyvumas gali kisti priklausomai nuo dažnio, tikras induktorius neturi vienos visiškai nuolatinės elektrinės vertės visomis veikimo sąlygomis. Todėl duomenų lapai dažnai nurodo induktyvumą, Q, impedansą, SRF, testavimo dažnį, signalo lygį ir kartais DC biudžetą nustatytomis sąlygomis.
Osiloskopo pagrindu atliekami induktyvumo matavimai yra paveikti testavimo komponentų, prietaisų, zondų ir jungčių tikslumo. Įtampos, fazės, varžos, dažnio ar komponentų verčių klaidos gali persiduoti į apskaičiuotą induktyvumą. Dominantys šaltiniai priklauso nuo to, ar naudojama žinomo rezistoriaus metodika, ar rezonansinė metodika. [1,2,3]
| Klaida Šaltinis |
Poveikis matavimui |
| Žinomo rezistoriaus tolerancija |
Neteisinga Rref vertė pakeičia apskaičiuotą srovę, o todėl ir apskaičiuotą impedansą bei induktyvumą žinomo rezistoriaus metodikoje. |
| Osiloskopo amplitudės tikslumas |
Įtampos matavimo klaidos paveikia VR, VL ir jų santykį. Klaidos gali tapti reikšmingesnėmis, kai viena matuojama įtampa yra daug mažesnė nei kita. |
| Fazės tikslumas |
Fazės klaida paveikia rezistinių ir reaktyvinių induktoriaus impedanso dalių atskyrimą ir todėl paveikia XL ir L. |
| Kondensatoriaus tolerancija |
Rezonansinės metodikos atveju žinomo kondensatoriaus vertės netikslumas sukelia induktyvumo netikslumą. |
| Dažnio tikslumas |
Dažnio klaida paveikia L = XL/(2pf) ir taip pat rezonanso santykį L=1/(4p2fr2C). |
| Zondo apkrova |
Zondo varža ir talpa šiek tiek keičia grandinę ir gali pakeisti matuojamą įtampą, fazę ar rezonansą, ypač didesniais dažniais. [2] |
| Vyriai ir laidų parazitiniai efektai |
Testavimo laidai, bandymų lenta ir jungtys prideda varžą, induktyvumą ir talpą, kurie gali pakeisti matuojamą impedansą ar rezonansinį dažnį. [3] |
| Generatoriaus išėjimo impedansas |
Šaltinio impedansas tampa praktinės testavimo grandinės dalimi ir gali paveikti srovės ir įtampos pasiskirstymą. |
| Elektros triukšmas |
Triukšmas ir bangų formos nestabilumas didina netikslumą amplitudės, laiko, fazės ir rezonanso matavimuose. |
| Prietaiso kalibravimas |
Kalibravimo klaidos gali įvesti sistemines klaidas į įtampos, fazės ir dažnio matavimus. |
Paprastas matavimo netikslumo pavyzdys
Pavyzdžiui, matuojamas induktyvumas yra maždaug 10.0 mH. Toliau pateikti skaičiai yra tik iliustracinis netikslumo biudžetas, o ne specifikacijos kiekvienam osiloskopui ar testavimo įrenginiui.
Žinomo rezistoriaus matavimui tegu numatomas santykinis indėlis yra:
• Žinomas rezistorius: ±0.5%
• Osiloskopo amplitudės matavimai: ±1.0%
• Fazės susijęs indėlis: ±1.0%
• Zondo apkrova ir laidų parazitiniai efektai: ±0.7%
• Dažnio tikslumas: ±0.1%
Jei šie nepriklausomi indėliai sujungti naudojant šaknies kvadrato metodą:
ur ≈ √ (0.5%)2 + (1.0%)2 + (1.0%)2 + (0.7%)2 + (0.1%)2
ur ≈ 1.7%
Iliustracinis rezultatas būtų:
L ≈ 10.0 mH±0.17 mH
Rezonansinės metodikos atveju kondensatoriaus tolerancija pakeičia kelis rezistoriaus metodo terminus tiesioginiame induktyvumo apskaičiavime. Kadangi
kondensatoriaus tolerancija ±1% prisideda maždaug ±1% netikslumui į L, tuo tarpu rezonansinio dažnio klaida prisideda maždaug dukart jos santykinės klaidos, nes L priklauso nuo fr-2. Zondo apkrova ir laidų parazitiniai efektai gali pridėti papildomą netikslumą, pakeisdami stebimą rezonansą.
Šis pavyzdys skirtas tik parodyti kaip sukuriamas netikslumo biudžetas. Tikrasis netikslumas turėtų naudoti konkretaus rezistoriaus, kondensatoriaus, osiloskopo, zondų, signalo generatoriaus ir naudojamo testavimo įrenginio specifikacijas. Jei gamintojas ar paskelbtas tyrimas praneša apie konkrečią netikslumo ar tikslumo vertę, ji turėtų būti identifikuota kaip trečiosios šalies duomenys gauti nurodytomis testavimo sąlygomis, o ne kaip visuotinė tikslumo specifikacija osiloskopu pagrįstam induktyvumo matavimui.
Geras matavimas turėtų generuoti stabilias, kartotinas bangų formas su švariomis formomis ir amplitudėmis, kurių pakanka aiškiai matuoti. Abnormalūs braižai dažnai rodo jungčių, signalo lygio ar matavimo sąlygų problemas, o ne tikrą induktyvumo pokytį.
| Bangos forma ar rezultatas |
Kas tai gali reikšti |
Korekcinė veikla |
| Švarūs, stabilūs sinusiniai signalai |
Normalios matavimo sąlygos |
Užregistruokite reikalingus amplitudės, laiko arba fazės vertes skaičiavimams. |
| Tikimasi fazių pokyčio |
Įprastas induktyvus elgesys |
Naudokite išmatuotą fazių ryšį, jei pasirinkta metodika to reikalauja. |
| Nestabilus arba plaukiantis diagrama |
Iškvietimas nėra užrakintas arba šaltinis yra nestabilus |
Reguliuokite iškvietimo lygį ir šaltinį, tada patikrinkite, ar generatoriaus dažnis yra stabilus. |
| Supjaustyta bangformė |
Signalo amplitudė yra per didelė arba dalis grandinės yra sotuota arba perkrauta |
Sumažinkite generatoriaus amplitudę ir patikrinkite oscilloscope vertikalią diapazoną. |
| Iškreipta sinusinė banga |
Per didelis vairavimas, šerdies nelinariškumas, prasta šaltinio bangformė arba apkrova |
Sumažinkite signalo lygį ir patikrinkite generatoriaus bangformę. |
| Triukšminga bangformė |
Elektriniai trikdžiai, prasti ryšiai arba per mažas signalas |
Pagerinkite ryšius, sutrumpinkite nereikalingus laidus ir prireikus padidinkite naudingą signalo lygį. |
| Nenumatytai mažas amplitudės lygis |
Neteisingas zondavimo taškas, prastas ryšys arba netinkamos testavimo sąlygos |
Patvirtinkite matavimo tašką ir grandinės ryšius. |
| Nenumatytai didelis amplitudės lygis |
Neteisingas kanalo mastelis, zondavimo slopinimo nustatymas arba rezonanso susijęs įtampos kilimas [2] |
Patikrinkite zondo faktorių ir oscilloscope kanalo nustatymus. |
| Apskaičiuota induktyva yra nerealistiška |
Išmatuota įtampa, fazė, dažnis arba komponento vertė gali būti įvesta neteisingai |
Pakartotinai patikrinkite rodomas vertes, vienetus ir komponentų vertes prieš kartojant skaičiavimą. |
| Bangformė smarkiai keičiasi su dažniu |
Induktoris arba testinė grandinė tampa stipriai priklausoma nuo dažnio [4] |
Palyginkite matavimus netoliese esančiuose dažniuose ir patikrinkite, ar matavimas išlieka numatytame veikimo regione. |
Kaip turėtų atrodyti normali bangformė
Naudojant sinusinės bangos testavimo signalą, rodomos bangformės paprastai turėtų išlikti lygios ir periodinės. Žinomo rezistoriaus metode rezistoriaus įtampa atitinka srovės bangformę, tuo tarpu induktoriaus susijusi įtampa paprastai rodo fazių pokytį, palyginti su ja [1,4]. Tikslus fazių ryšys priklauso nuo tikrosios varžos ir parasitinių efektų, esančių grandinėje.
Rezono matavimams svarbiausias bruožas yra aiškus atsako pokytis aplink rezonansinį dažnį [3]. Prastai apibrėžtas arba nereguliarus pikis gali apsunkinti rezonanso taško nustatymą.
Pašalinimo procesas turėtų pirmiausia koncentruotis į tai, ar rodoma bangformė yra stabili, nepjaustyta, teisingai masteluota, ir matuojama numatytoje grandinės vietoje prieš interpretuojant apskaičiuotą induktyvą.
Oscilloscope pagrindu atliekamas induktyvos matavimas gali būti naudingas, tikrinant, ar induktorius tinka realiai grandinei, nustatant nežinomą komponentą arba lyginant matuotą vertę su jos tikėtinomis specifikacijomis.
Buck-Converter Induktoris
Buck keitiklis priklauso nuo savo induktoriaus, kad suvaldytų srovės svyravimą ir kaupia energiją per įjungimus. Induktyvos matavimas gali padėti patvirtinti, ar pakeitimo arba nežinomas induktorius yra arti reikiamos vertės. Žinomo rezistoriaus metodas iš 3 skyriaus yra tinkamas tam tikro tipo laboratoriniams testams.
Nežinomas Vyniojimas
Nežymėtas arba atgautas vyniojimas gali neturėti skaitomos induktyvos vertės. Matuojant jį su oscilloscope, gaunama apytikslė vertė, kuri gali padėti nustatyti galimą jo naudojimą. Galima naudoti arba žinomo rezistoriaus metodą, arba rezonanso metodą, priklausomai nuo vyniojimo ir turimų komponentų.
Audio Krosinio Induktoris
Induktoriai pasyviuose garsiakalbių krosuose padeda nustatyti, kaip dažniai dalijami tarp garsiakalbių. Jei induktyva labai skiriasi nuo numatytos vertės, krosinio atsakas gali pasislinkti. Todėl matuoti vyniojimą yra naudinga, tikrinant, keičiant ar statant krosų komponentus.
RF Induktoris
RF induktorai yra labiau jautrūs dažniui priklausomam elgesiui. Jų efektyvi induktyva ir impedansas gali keistis, didėjant darbo dažniui. Todėl matuoti RF induktorių netoli jo numatyto dažnio gali suteikti prasmingesnės informacijos nei žemo dažnio matavimas, tuo pačiu išlikus žemiau jo savaiminio rezonansinio regiono. [4,7]
Oscilografas ir LCR matuoklis gali būti naudojami induktyvumui matuoti, tačiau jie atlieka skirtingas užduotis. LCR matuoklis tiesiogiai pateikia induktyvumo rodmenį, tuo tarpu oscilografui paprastai reikia išmatuotų bangosformų verčių, kurios būtų naudojamos skaičiavimuose. [1,4,5]
| Palyginimas |
Osciografas |
LCR Matuoklis |
| Matuojamas rezultatas |
Induktivumas yra apskaičiuojamas iš matuojamų elektrinių didžiųjų |
Tiesiogiai rodo induktyvumą |
| Patogumas |
Reikia testavimo grandinės ir skaičiavimų |
Prijunkite komponentą ir pasirinkite reikalingą matavimo režimą |
| Testavimo dažnis |
Gali naudoti dažnius iš signalo generatoriaus, tinkamų nustatymams |
Naudoja fiksuotus arba pasirenkamus testinius dažnius, kuriuos nurodo matuoklis |
| Bangosformos matomumas |
Rodo amplitudę, fazę, iškraipymą, triukšmą ir pereinamą elgseną |
Paprastai koncentruojasi į komponentų parametrus, o ne bangosformos formą |
| Tikslumas |
Labai priklauso nuo visos testavimo sistemos ir skaičiavimų |
Paprastai geriau tinka tiksliai komponentų charakterizacijai, priklausomai nuo matuoklio specifikacijų |
| Matuojamo greitis |
Lėtai, nes gali prireikti kelių matavimų |
Paprastai greičiau atliekant įprastus komponentų testus |
| Papildoma informacija |
Naudinga stebint, kaip induktorius elgiasi elektriškai grandinėje |
Daugelis modelių taip pat gali matuoti parametrus, kaip impedansas, Q, nuostolių koeficientas ar atsparumas |
| Kainų aspektas |
Naudinga, kai oscilografas ir signalo generatorius jau yra prieinami |
Pagrindiniai modeliai yra prieinami, tačiau tikslūs ir aukšto dažnio LCR matuokliai gali būti brangūs |
Specializuotas LCR matuoklis yra pageidautinas, kai pagrindinis reikalavimas yra tikslūs, kartojami komponentų vertės, ypač kai reikia išbandyti daugelį induktorių. Oscilografas yra naudingesnis, kai tikslas apima bangosformos, fazės ryšio, iškraipymo ar induktoriaus elgsenos matymą konkrečiomis grandinės sąlygomis. [1,3,4]
Techninė nuoroda
[1] Tektronix, Inc. „Kaip matuoti induktyvumą ir talpą su oscilografu ir funkcijų generatoriumi.“ Tektronix taikomoji Pastaba, 2025 m. rugsėjo 21 d. Dokumento Nr. 75W-28152-2.
[2] Tektronix, Inc. „Probing ABCs“ Pagrindai.“ Tektronix baltasis dokumentas, 2024 m. birželio 19 d.
[3] Keysight Technologies, Inc. „Impedanso matavimo vadovas.“ Keysight Technologies taikomoji Pastaba, Publikacijos Nr. 5950-3000.
[4] Keysight Technologies, Inc. „E4980B/BL tikslus LCR matuoklio naudotojo vadovas.“ Keysight Technologies vartotojo vadovas, Publikacijos Nr. 9924-01854.EN, 2024 m. gruodžio 13 d.
[5] Murata Manufacturing Co., Ltd. „Pagrindinės žinios apie aukšto dažnio charakteristikas induktoriuose ir talpose – impedansas ir rezonansas (1).“ Murata Manufacturing straipsniai, 2023 m. sausio 24 d.
[6] Coilcraft, Inc. „Induktoriai kaip RF batų užtvarai.“ Coilcraft taikomoji Pastaba.
[7] Tarptautinė elektrotechninė komisija. IEC 61010-031:2022, Saugumo reikalavimai elektros įrangai matavimui, kontrolei ir laboratorijai – 031 dalis: Saugumo reikalavimai nešiojamoms ir rankiniu būdu valdytoms jutiklių jungtims elektriniams testams ir matavimams. IEC, 2022.
[8] Tarptautinė elektrotechninė komisija. IEC 61010-1:2010+AMD1:2016 CSV, Saugumo reikalavimai elektros įrangai matavimui, kontrolei ir laboratorijai – 1 dalis: Bendrieji reikalavimai. IEC, 3.0 leidimas, 2016 m. gruodžio 16 d.
[9] Tarptautinė elektrotechninė komisija. IEC 61010-2-030:2023, Saugumo reikalavimai elektros įrangai matavimui, kontrolei ir laboratorijai – 2-030 dalis: Ypatingi reikalavimai įrangai, turinčiai testavimo arba matavimo grandines. IEC, 3.0 leidimas, 2023 m. rugsėjo 20 d.
APIE MUS
Klientų pasitenkinimas kiekvieną kartą. Abipusis pasitikėjimas ir bendri interesai.
Histerezės nuostolis vs eddy srovės nuostolis: priežastys, formulės, skirtumai ir pavyzdžiai
2026-09-30
GF1D onsemi diodas: 1 A, 200 V SMA specifikacijos ir alternatyvos
2026-09-27
Geriau izoliuoti induktorių nuo aplinkinės grandinės. Kiti rezistoriai, talpos, puslaidininkiniai prietaisai ir paraleliniai keliai gali pakeisti matuojamą įtampą ir srovę, todėl apskaičiuotas induktyvumas gali atspindėti visą tinklą, o ne tik induktorių. Matuojama grandinėje gali būti įmanoma tik tada, kai aplinkinė grandinė gerai suprantama.
Taip, ypač induktoriams su magnetiniais branduoliais. Didelis testavimo signalas gali padidinti magnetinį srauto ir perkelti branduolį į nelinijinį regioną, todėl akivaizdus induktyvumas keičiasi. Mažo signalo matavimai paprastai labiau tinka, kai tikslas yra nustatyti komponento nominalų induktyvumą.
Taip, tačiau nustatymas tampa sudėtingesnis. Daugelis galingų induktorių praranda induktyvumą, kai didėja nuolatinė srovė dėl branduolio elgesio. Šio efekto matavimui reikia taikyti reikiamą nuolatinę įtampą, tuo pačiu dengiant tinkamą AC testinį signalą ir saugiai atskiriant nuolatinės srovės šaltinį nuo matavimo įrangos.
Jis gali būti naudojamas kai kurioms laikinių technikų, tačiau impulso bangos dažniausiai yra pageidautinos matuojant impedansą. Kvadratinė banga apima daugybę armonikų, todėl induktorius reaguoja į kelis dažnius vienu metu. Tai gali apsunkinti amplitudės ir fazės skaičiavimus.
Atspausdinta vertė paprastai yra nominali vertė, matuojama pagal nustatytas bandymo sąlygas. Skirtumai gali atsirasti dėl komponentų tolerancijos, bandymo dažnio, temperatūros, signalo lygio, nuolatinės įtampos ir parazito efektų. Palyginimas yra prasmingiausias, kai matavimo sąlygos atitinka gamintojo techniniame lapelyje nurodytas sąlygas.
Tinkamas srovės zondas gali tiesiogiai matuoti induktoriaus srovę, pašalindamas poreikį skaičiuoti srovę iš įtampos per referencinį rezistorių. Tačiau srovės zondo juostos plotis, jautrumas, tikslumas ir apkrovimo charakteristikos vis tiek turi būti tinkamos matavimui.
Oscilloscope turi tiksliai atkurti signalų amplitudę ir fazę pasirinktu bandymo dažniu. Jei matavimas priartėja prie prietaiso ar zondo juostos pločio ribos, amplitudės slopinimas ir fazės klaida gali sumažinti apskaičiuoto induktyvumo patikimumą.
El. paštas: Info@ariat-tech.comHK Tel.: +852 30501966Adresas: Rm 2703 27A Ho King komercinis centras 2-16,
Fa Yuen g., MongKok, Kovlunas, Honkongas.